Đăng RFQ
Sử dụng công nghệ quang phổ tia X huỳnh quang vi khu vực, có thể tập trung chính xác vào vùng lớp phủ để thực hiện kiểm tra, tránh sự can thiệp của kim loại nền đối với kết quả kiểm tra, và thực hiện phân tích định lượng chính xác chất hại trong lớp phủ. Nó cũng hỗ trợ kiểm tra đồng thời độ dày lớp phủ, với độ chính xác kiểm tra là ±0,01μm, đáp ứng yêu cầu kiểm tra tuân thủ của bộ phận ô tô và phụ kiện phần cứng. Nó được trang bị giao diện hoạt động kiểm tra một nút, nên ngay cả người vận hành không chuyên nghiệp cũng có thể nhanh chóng làm quen và sử dụng. Nó được trang bị cơ sở dữ liệu kiểm tra lớp phủ chuyên nghiệp, có thể phù hợp với nhu cầu kiểm tra nhiều quy trình mạ điện phổ biến, nâng cao đáng kể hiệu quả và độ chính xác của việc kiểm tra tuân thủ lớp phủ.

Công nghệ Kiểm tra cốt lõi: Quang phổ tia X huỳnh quang vi khu vực; Phạm vi nguyên tố kiểm tra: Chì (Pb), Cadmium (Cd), Crom (Cr), Niken (Ni) và các chất hại khác liên quan đến lớp phủ; Phạm vi kiểm tra độ dày lớp phủ: 0,1μm-100μm; Độ chính xác kiểm tra: Chất hại ≤0,2ppm, độ dày lớp phủ ±0,01μm; Loại mẫu: Bộ phận mạ kim loại, phụ kiện phần cứng, lớp phủ bộ phận ô tô; Chu kỳ kiểm tra: 30-60 giây cho mỗi mẫu; Kích thước thiết bị: 500mm(Dài) × 400mm(Rộng) × 300mm(Cao); Trọng lượng ròng: 30kg; Nguồn điện: 100-240V AC, 50/60Hz; Giao diện dữ liệu: USB, WIFI; Hỗ trợ phần mềm: Phần mềm phân tích kiểm tra lớp phủ chuyên dụng; Môi trường làm việc: 15-30℃, 30-70%RH; Chứng chỉ tuân thủ: CE, FCC, RoHS 2.0.

Nó phù hợp với doanh nghiệp xử lý mạ điện, nhà sản xuất phụ kiện phần cứng, nhà cung cấp bộ phận ô tô, nhà sản xuất nối điện tử, v.v. Nó có thể phát hiện các chất hại bị hạn chế trong mọi loại lớp phủ kim loại, như lớp phủ bánh xe ô tô, lớp phủ nối điện tử, và lớp phủ vít phần cứng, giúp doanh nghiệp đáp ứng yêu cầu tuân thủ môi trường của EU, Bắc Mỹ và các thị trường khác. Kịch bản sử dụng điển hình bao gồm kiểm tra nguyên liệu đầu vào mạ điện, kiểm tra tuân thủ lớp phủ sản phẩm hoàn thành, và kiểm tra chất lượng lớp phủ chuỗi cung ứng.